无损探伤X射线检测机的辐射场分布

文章录入：金盾防护   文章来源：金盾防护   添加时间：2021-11-3

无损检测的x射线强度在空间某一点的强度是指单位时间内通过垂直于X射线传播方向上的单位面积上的光子数量与能量乘积的总和。X射线强度是由光子数目和光子能量两个因素决定的。
影响x射线强度的因素：构成靶物质的原子序数、管电流、管电压、附加滤过。
X射线强度的空间分布
从x射线管焦点上产生的x射线，在空间各个方向上的分布是不均匀的，在不用的方向的辐射强度是不同的，这种不均匀的分布称为辐射强度空间分布或称辐射场的角分布。
X射线辐射空间强度在空间的分布情况很复杂，主要取决于射电电子的能量，靶物质及靶的厚度等因素。
在放射工作中，当成像解剖结构厚度上或密度上差别较大时，阳极效应就很重要。因此成像时一般采用如下方法：
1、一般来说，将厚度大、密度高的部位置于阴极侧，这样可成像的探测器辐射量较为均匀。
2、尽量使用中心线附近强度均匀的X射线束摄影。
例子：
第一次摄像时焦片距较小a,部位横跨中心线左右各20°，其两端的强度差为95％-31％=64％
若焦片距拉大到b，则投照部位仅横跨中心线左右各8°，其两端的强度差为104％-85％=19％。
阳极效应的两一个重要影响：改变焦点的大小和形状。

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